GP-L500-324K es un microscopio metalográfico de grado de investigación con 4K Ultra HD. Admite aumento de 5 pasos cambiando de 380× a 6080×. El escenario móvil extragrande incorporado admite cómodamente muestras de gran tamaño. El microscopio metalúrgico 4K Ultra HD apto para investigación ofrece 4K Imágenes de ultra alta definición con detalles nítidos de microestructura. El puerto trinocular admite la instalación de la cámara y conexión software-análisis-metalográfico. Es ideal para la observación metalúrgica de materiales de gran tamaño, semiconductor inspección, análisis de cortes de PCB y trabajos de control de calidad de laboratorio industrial.
Este microscopio metalúrgico 4K Ultra HD de grado de investigación es adecuado para la observación microscópica de microestructuras metalográficas y morfología de superficies. eso Sirve como una herramienta de investigación ideal para las disciplinas de metalurgia, mineralogía e ingeniería de precisión.
Cámara 4K integrada dentro de la carcasa trinocular para visualización simultánea a través de oculares y monitor externo. Puerto dual La salida a través de HDMI y Gigabit LAN transmite microimágenes ultra HD en tiempo real.
Aumento óptico 50-800×; El aumento digital máximo alcanza 6080X (zoom digital puro) con lente de cinco objetivos conjunto. La trayectoria óptica de precisión ofrece detalles nítidos para la microinspección de chips y obleas.
Las perillas de enfoque coaxial combinadas con un conjunto de lente-cilindro reforzado permiten un enfoque constante y minimizan el movimiento de la imagen.
Platina de muestra móvil extragrande combinada con una gruesa base de metal integrada. Permanece estable para muestras de gran tamaño sin se tambalea durante la observación prolongada.
Estructura metálica rígida minimalista integrada estilo laboratorio, ideal para talleres de semiconductores y universidades. laboratorios e instalaciones de control de calidad.
Ideal para inspección de chips y obleas, pruebas de semiconductores, análisis metalográficos, investigación de materiales, docencia-académica y trabajos de evaluación de la calidad.
Captura de fotos y vídeos 4K, modos de medición dual (en pantalla integrado + software para PC). Almacenamiento dual a través de disco U y computadora. Las funciones de síntesis de profundidad de campo y unión de imágenes se ejecutan exclusivamente en el software de PC compatible. El desarrollo secundario es compatible con puerto LAN para archivado de imágenes, comparación y análisis avanzado.
Visualización binocular más observación electrónica sincrónica:Trabajo de visualización del ocular y visualización del monitor. sincrónicamente. Los microscopios metalúrgicos ordinarios sólo admiten la observación ocular; accesorios adicionales para la cámara son requerido para la salida de pantalla.
Escenario de gran tamaño, aumento ultra alto e imágenes 4K:El aumento óptico máximo alcanza 800X; La ampliación electrónica puramente digital máxima alcanza 6080X. El escenario móvil de gran tamaño se adapta muestras de gran tamaño con salida 4K nativa. Los microscopios metalúrgicos convencionales adoptan una etapa de trabajo de tamaño pequeño con menor resolución y aumento limitado.
Interfaces de doble salida:Puerto HDMI + LAN Gigabit. Los microscopios metalúrgicos comunes tienen Interfaz única sin puerto de red para integración del sistema.
Modos de medición dual:Medición integrada fuera de línea en el monitor más medición mediante software para PC. Los microscopios metalúrgicos comunes solo admiten mediciones de software en el lado de la PC.
Modos de almacenamiento dual:Almacenamiento en disco U sin conexión y almacenamiento de software para PC, ahorro de datos disponible con o sin ordenador conectado. Los modelos convencionales requieren conexión a una PC para guardar imágenes.
Desarrollo secundario apoyado:El puerto LAN permite la integración automática del sistema. generales Los microscopios metalúrgicos no respaldan la capacidad de desarrollo secundario.
Camino óptico metalúrgico dedicado:Optimizado para grano metálico, revestimiento y Análisis de materiales metalográficos. Los microscopios digitales comunes carecen de este camino óptico especializado y no pueden visualizar estructuras metalográficas.
Mecánica:Construcción totalmente metálica para alta rigidez y resistencia a las vibraciones. Precisión Enfoque grueso y fino sin reacción. Etapa XY manual de gran tamaño con bajo desgaste y espacio mínimo. trinocular La trayectoria óptica mantiene la alineación óptica al cambiar de objetivo.
Óptica:Objetivos metalúrgicos plan-acromáticos corregidos al infinito con revestimiento duro antivaho. Iluminación con lámpara halógena de luz reflejada de 6V-30W.
Imágenes y medición:Cámara CMOS industrial 4K de 8,3 megapíxeles. Salida dual: HDMI + Gigabit-LAN Puerto, buen rendimiento antiinterferencias para uso en entornos industriales. Admite medición integrada en el monitor y medición de software para PC. Precalibrado en fábrica; los parámetros persisten después del apagado; sin calibración diaria requerido. Almacenamiento de doble ruta a través de disco U y software de PC. Síntesis de profundidad de campo y unión de imágenes disponibles sólo en software de PC. La interfaz de desarrollo secundario está disponible a través del puerto LAN.
Entorno operativo:Temperatura de trabajo 10-35 ℃, humedad relativa 30-75 % RH. Estable bajo condiciones normales Entorno electromagnético de fábrica. Evite vibraciones fuertes, gases corrosivos y polvo pesado.
Calidad y mantenimiento:Inspección de fábrica de artículos completos. No desmonte los módulos ópticos. regular La limpieza a prueba de polvo prolongará la vida útil.
Obleas y chips semiconductores (aplicación principal):
Obleas de silicio, rodajas de litografía, chips IC, tubos MOS, PCB, circuitos flexibles FPC, uniones de soldadura empaquetadas.
Objetivos de inspección: circuitos internos de microchips, recubrimientos de obleas, defectos de grabado, burbujas de embalaje, soldadura en frío
Uniones, oxidación y deformación de pasadores.
Muestras metalográficas y herramientas de corte de hardware:
Perfiles metalográficos, aceros aleados, brocas, fresas, piezas metálicas estampadas con precisión.
Objetivos de inspección: estructura de grano metálico, análisis metalográfico de tratamiento térmico, microfisuras superficiales,
Descantillados, rebabas, rastros de desgaste e impurezas internas del material.
Muestras de laboratorio: polvo, fibra y película delgada:
Polvo metálico, polvo químico, fibra de carbono, fibra textil, películas de recubrimiento óptico.
Observe la morfología de las partículas, la textura de las fibras, la delaminación de la película y las estructuras de microrecubrimiento.
Componentes optoelectrónicos y de plástico de precisión:
Chips LED, lentes ópticas, piezas moldeadas por inyección, pegamento para envases de semiconductores.
Detecta microporos, manchas superficiales, bordes ásperos, delaminación, burbujas y pequeños defectos cosméticos.
Componentes en miniatura de precisión de gran tamaño:
Conectores, terminales, microrresortes, piezas estampadas de gran tamaño, piezas de dimensiones largas.
El escenario móvil extragrande admite muestras de gran tamaño; Medición precisa de espacios y agujeros a nivel de píxeles de 4K
diámetros, diferencias de altura y dimensiones lineales.
Laboratorios académicos y control de calidad de fábricas de semiconductores:
Experimentos de investigación de materiales, inspección completa de productos entrantes y terminados para semiconductores,
observación de muestras metalográficas; archivo de fotos/vídeo, conexión a PC para exportar medidas profesionales
Informes de control de calidad.
La gran plataforma ampliada permite la observación completa de obleas, PCB grandes y grandes rebanadas de metal sin corte de muestras. Perfecto para inspección de obleas de semiconductores, placas de circuitos y componentes de hardware de gran tamaño.
Aumento ajustable en pasos: óptico 50x-800x; Ampliación digital máxima de hasta 6080X (zoom digital puro). Capturas Aspecto general de la pieza de trabajo y detalles ultrafinos como circuitos de chips, granos de metal, microarañazos y poros del revestimiento. Ideal para pruebas de I+D de semiconductores.
La trayectoria óptica sincrónica trinocular permite la observación simultánea a través de oculares binoculares y un monitor HDMI. Adecuado para discusión en equipo de I+D, doble control de calidad y enseñanza en laboratorio universitario para reducir los errores de juicio.
Salida HDMI única con función de medición en monitor incorporada. Las fotos y vídeos 4K se pueden guardar directamente en disco U compatible. La instalación plug-and-play se adapta a estaciones de inspección básicas en talleres de semiconductores y pequeños laboratorios de materiales.
Cuerpo antivibración integrado grueso junto con enfoque manual grueso-fino. Rendimiento de enfoque fluido sin cambio de imagen durante una inspección continua de largas horas. Durable para prueba de entrada de masa diaria para obleas y placas de circuito y análisis de laboratorio de muestras estáticas a largo plazo.
El envío con embalaje neutral está disponible a pedido.
| Artículo | Descripción |
| Producto | GP-L500-324K Microscopio metalográfico de grado de investigación con 4K Ultra HD |
| Categoría | Inspección y medición metalúrgica trinocular 4K de plataforma grande de grado de investigación industrial microscopio |
| Tecnologías centrales | Sistema óptico de visualización sincrónica trinocular, platina de muestra móvil de gran superficie, alta potencia metalúrgico conjunto de lentes objetivo, sensor de imagen CMOS 4K ultra-HD, sistema de medición dual (integrado en el monitor) medición + medición de software de PC), transmisión de señal de doble canal HDMI+Gigabit-LAN, tecnología de almacenamiento dual, Arquitectura abierta que soporta el acoplamiento de desarrollo secundario. |
| Especificaciones clave | Ampliación visual: 50/100/200/500/800×; Ampliación electrónica: 380/760/1520/3800/6080× (6080X es puro zoom digital); Interfaces de doble salida: HDMI + puerto Gigabit-LAN; Resolución de captura 4K: 3840×2160; Enfoque manual solamente; Modos de medición dual: medición precisa incorporada + medición de software de PC dedicado; Almacenamiento dual modos: almacenamiento local en disco U + almacenamiento de software de PC; El terminal de monitor admite medición dimensional, HD imagen vista previa, archivo de fotografías y archivos; El terminal de PC admite medición dimensional y almacenamiento de imágenes; Unidad entera admite la integración de desarrollo secundario a través de LAN. |
| Aplicaciones típicas | Inspección de microestructuras de obleas y chips semiconductores, observación de componentes electrónicos de gran tamaño, metales análisis de estructura de grano metalográfico, detección de circuitos de embalaje, inspección de sección transversal de PCB, pruebas de calidad de materiales de nueva energía, investigación de laboratorio de materiales avanzados en la universidad |
| Fabricante | Instrumento de precisión Co., Ltd. de Kunshan Gaopin |
| Ubicación del fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (junto a Shanghai) |
| Modelo | GP-L500-324K |
| Resolución | 3840×2160 |
| Píxeles reales efectivos | 8,3 megapíxeles |
| Método de enfoque | Solo enfoque manual |
| Formato óptico | 1/1.7" |
| Tamaño de píxel | 1,85 µm × 1,85 µm |
| Método de salida | Puerto Ethernet HDMI + LAN Gigabit |
| Introducciones funcionales detalladas correspondientes a cada interfaz de salida | ① HDMI se conecta a pantallas compatibles con 4K. Compatibilidad con firmware de procesamiento de imágenes profesional integrado
grabación de fotografías, grabación de vídeo, medición dimensional, reproducción y comparación de imágenes, operado
por
ratón en tiempo real. ② El puerto LAN Gigabit se conecta a enrutadores, conmutadores u computadoras para imagen de red transmisión. Las computadoras dentro del mismo segmento de red pueden recibir video en tiempo real y activar la captura vía software correspondiente. |
| Velocidad de fotogramas | HDMI: 60 fps a 3840×2160 LAN Gigabit: 20 fps a 1920 × 1080 |
| Síntesis de profundidad de campo | / |
| Unión de imágenes | / |
| Método de medición | Sistema de medición integrado en monitor + medición con software para PC |
| Precisión de medición | 0,001 milímetros |
| Unidades de medida | mm / μm / mil / pulgada (4 unidades conmutables) |
| Herramientas de medición | Longitud, ángulo, radianes, círculo, polígono, polilínea, distancia de centro a centro, rectángulo, anotación agregando, detección automática de bordes, barra de escala y más |
| Método de almacenamiento | Almacenamiento en disco U + almacenamiento de software para PC |
| Idioma de visualización | Chino simplificado/inglés (conmutable) |
| Procesador | Procesador de control principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Sistema operativo | Firmware de medición desarrollado independientemente basado en el kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imágenes | Nombramiento automático o manual disponible |
| Cabezal de visualización | Cabeza trinocular tipo bisagra inclinada 30°; rango de ajuste interpupilar: 53 mm-75 mm |
| Modos de observación | Campo claro/iluminación oblicua/polarización simple |
| Sistema de iluminación | Sistema de iluminación de luz descendente únicamente reflejada, entrada de amplio voltaje de 100-240 V, filamento ajustable centro, Intensidad de luz continuamente ajustable. |
| Pararse | ① Bastidor tipo disparo, mecanismo de enfoque coaxial fino y grueso de posición baja, con bloqueo y
limitando
dispositivos; valor de graduación de movimiento fino: 0,7 μm. Iluminación de luz reflejada con lámpara halógena. ② campo brillante Reflector con tope de apertura variable, tope de campo y unidad de conmutación de filtro de color. ③ Amarillo, azul, verde Se suministran filtros y láminas de vidrio esmerilado para el recorrido óptico de la luz reflejada. |
| Etapa mecánica | ★Plato móvil mecánico. Dimensión del escenario: 280 mm × 270 mm; Recorrido X-Y: 204 mm × 204 mm (recorrido de 8 pulgadas). vidrio Placa portamuestras sólo para observación de luz reflejada, adecuada para piezas de trabajo de grandes dimensiones. |
| Fuente de luz | Cámara de lámpara halógena de 6 V y 30 W (solo luz reflejada) |
| Función de polarización sencilla | Polarizador y analizador tipo push-pull instalados. |
| Interfaz electrónica | Interfaz de cámara de enfoque fijo CTV 1X; CTV 0.5X es opcional con compensación de diferencia de precio. |
| Oculares | Dos oculares de campo plano gran angular WF10X/22 mm con ajuste de dioptrías individual |
| Muserola | ★ Revólver objetivo de cinco orificios Mingchang |
| Objetivos metalúrgicos | ★Objetivos metalúrgicos plan-acromáticos corregidos al infinito ① PL L5X/0,12, Distancia de trabajo: 26,1 mm ×1 pieza ② PL L10X/0,25, Distancia de trabajo: 20,2 mm × 1 pieza ③ PL L20X/0,40, Distancia de trabajo: 8,80 mm ×1 pieza ④ PL L50X/0,70, Distancia de trabajo: 3,68 mm × 1 pieza ⑤ PL L80X/0,80, Distancia de trabajo: 1,25 mm ×1 pieza |
| Ampliación óptica | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (cinco niveles conmutables) |
| Ampliación electrónica | Aprox. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (cinco niveles conmutables); rango opcional: 190-3040X. |
Los microscopios GAOPIN son utilizados por empresas, institutos de investigación y universidades líderes. Nuestro colaborativo las relaciones incluyen:
Universidad de Tsinghua: enseñanza, imágenes de laboratorio y archivo de datos experimentales
Universidad de Fudan - Micronanomateriales e investigación de observación microscópica biomédica
Dabo Medical – Análisis de micromorfología para biomateriales y dispositivos médicos de tipo implante
Universidad de Comercio de Tianjin: enseñanza en laboratorio de materiales, microimágenes y archivo de datos experimentales
Universidad Xi'an Jiaotong - Observación experimental de ciencia de materiales avanzada y óptica de precisión
GREE Electric Appliances (Hefei): medición de dimensiones de precisión e inspección de defectos en piezas de electrodomésticos
A1: Equipado con puerto HDMI + Gigabit-LAN. Admite visualización de monitor directo y conexión de red con computadora.
R2: Admite grabación de fotografías y vídeos 4K ultra-HD. Los archivos se pueden guardar en un disco U con formato FAT32 de hasta 32 GB capacidad. Admite mediciones tanto en pantalla como en software para PC, con funciones de almacenamiento de datos y exportación de informes.
R3: Solución de problemas por falta de imagen: verifique la fuente de alimentación, el cable HDMI y la fuente de señal del monitor, luego reinicie el dispositivo. Solución de problemas de imágenes borrosas: ajuste el volante de enfoque manual, coloque la muestra en una superficie plana y limpie la superficie de la lente. Fallo de red Solución de problemas: configure la PC y el dispositivo dentro del mismo segmento IP, apague el firewall y vuelva a conectar el cable de red. Error de disco U solución de problemas: reemplace o vuelva a formatear el disco U (debe ser FAT32 y ≤32 GB).
A4: El desarrollo secundario se admite a través del puerto LAN. Ampliamente utilizado para análisis metalográficos y materiales metálicos. pruebas, pulvimetalurgia, inspección de semiconductores, inspección de componentes de precisión, investigación científica y experimentos-enseñanzas.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. se fundó formalmente en 2011. Nuestro equipo de liderazgo fundador acumuló Experiencia en la industria de equipos de inspección óptica a partir de 2005. Ofrecemos soluciones de extremo a extremo que cubren Diseño de sistemas ópticos, I+D independiente, distribución mundial de productos y mantenimiento posventa a largo plazo. servicios. Nuestro dedicado personal de ingeniería central posee más de diez años de experiencia práctica en desarrollo en instrumentos ópticos, asegurando una tecnología estable y probada y una calidad confiable.
GAOPIN mantiene una amplia línea de productos que consta de más de 100 instrumentos de inspección óptica diferentes, sirviendo clientes industriales y de laboratorio en los mercados internacionales. Nos centramos en gran medida en desarrollar productos hechos a medida, Soluciones de microscopía rentables para satisfacer demandas de inspección únicas de diferentes industrias.
Para los socios extranjeros, ofrecemos asistencia técnica global rápida que incluye videoconferencias en línea, Guía-por-video-operacional-paso-a-paso y capacitación-para-usuarios-remotos-en-vivo. Nuestra base de fabricación está ubicada en Kunshan, Jiangsu Provincia, con buenas conexiones de transporte con Shanghai. Las inspecciones de fábrica en sitio y los recorridos virtuales en línea son bienvenido. Comuníquese con nuestro equipo de ventas para obtener fotografías de prueba de muestras auténticas capturadas por esta metalografía de grado de investigación. Microscopio con 4K Ultra HD para evaluar el rendimiento de imágenes reales.
DIRECCIÓN
Edificio 2, Centro Internacional de Negocios Shuanglian, ciudad de Huaqiao, ciudad de Kunshan, China
Teléfono
Correo electrónico
