GP-L600-462H es un microscopio metalúrgico de enfoque automático 4K Ultra HD para inspección de obleas. adopta Sistema óptico con corrección al infinito para cambiar rápidamente entre los modos de observación de campo brillante y campo oscuro. El campo claro se utiliza para la observación rutinaria de microestructuras metalográficas; El campo oscuro ofrece un contraste mejorado. para pequeños defectos superficiales, rayones e impurezas de partículas. El puerto trinocular admite la instalación de la cámara y conexión software-análisis-metalúrgico. Muy adecuado para investigación metalográfica, inspección de semiconductores y flujos de trabajo de detección de defectos en la superficie de la pieza de trabajo.
Este instrumento es adecuado para la observación microscópica de microestructuras metalográficas y morfología de superficies. eso Sirve como una herramienta de investigación ideal para las disciplinas de metalurgia, mineralogía e ingeniería de precisión.
Cámara 4K integrada en la carcasa trinocular para visualización simultánea a través del ocular y el monitor. Salida multipuerto a través de HDMI, USB3.0 y WIFI transmite microimágenes ultra HD en tiempo real.
Admite observación DIC, campo brillante, campo oscuro y luz polarizada. Aumento de 4 pasos, óptico 50-500X, máx. digitales Ampliación de hasta 1900X, que ofrece detalles nítidos para la inspección de microcaracterísticas.
Módulo de enfoque automático de hardware incorporado, también está disponible el modo de enfoque manual. Realiza un enfoque suave y sin vibraciones. y mejora la eficiencia para las pruebas de muestras masivas.
Soporte de metal integrado grueso y soporte de escenario con centro de gravedad bajo, manteniendo un rendimiento estable para larga duración observación de laboratorio.
Diseño óptico modular con estructura metálica rígida, ideal para laboratorios, institutos de investigación y semiconductor instalaciones de fabricación.
Ideal para inspección de obleas y chips; También se aplica ampliamente para pruebas de semiconductores, análisis metalográficos, Trabajos de investigación de materiales y evaluación de precisión y calidad.
Captura de fotos y vídeos 4K, modos de medición dual (en pantalla integrado + software para PC). Almacenamiento dual a través de disco U y computadora. La síntesis de profundidad de campo funciona tanto en el monitor como en el software de PC; La función de unión de imágenes está disponible sólo en Software para PC. Desarrollo secundario compatible con archivado, comparación y análisis avanzado de imágenes.
1. Modos de observación óptica:Admite ópticas multimodo que incluyen DIC, campo brillante y campo oscuro y luz polarizada para la observación de la textura del cristal y del revestimiento. Los microscopios metalúrgicos comunes sólo proporcionan campo brillante básico y no pueden visualizar capas ultrafinas y microestructuras cristalinas.
2. Sistema de imágenes:Cámara nativa 4K ultra-HD, visualización sincronizada entre ocular y monitor. ordinario Los microscopios metalúrgicos ofrecen imágenes 2K de baja definición y visualización únicamente mediante ocular, con imágenes borrosas y distorsionadas. bajo gran aumento.
3. Ajuste de ampliación:Zoom de cuatro velocidades de 190-1900X, que cubre una descripción general macro y microdetalles inspección. Los microscopios metalúrgicos comunes tienen menos engranajes de aumento e imágenes borrosas a alta potencia.
4. Medición y registro:Medición precisa integrada en el monitor con captura de foto y vídeo función. Los microscopios metalúrgicos comunes no tienen mediciones integradas y requieren software de PC para todos trabajos de medición y archivo.
Mecánica:Construcción totalmente metálica para alta rigidez y resistencia a las vibraciones. Enfoque automático por hardware Equipado con módulo, el enfoque manual también está disponible. Enfoque fino y grueso de precisión sin reacción. Alta precisión Etapa mecánica XY manual con bajo desgaste y holgura mínima. La trayectoria óptica trinocular mantiene la óptica Coalineación durante el cambio de aumento.
Óptica:Objetivos metalúrgicos plan-acromáticos corregidos al infinito con revestimiento duro antivaho. Iluminación con lámpara halógena de transmisión reflejada de 12 V-100 W.
Imágenes y medición:Cámara industrial CMOS 4K. Multisalida: HDMI + USB3.0 + WIFI, bueno Rendimiento antiinterferencias para uso en entornos industriales. Admite mediciones integradas en el monitor y Medición de software para PC. Almacenamiento de doble ruta a través de disco U y software de PC. La síntesis de profundidad de campo funciona en ambos casos. software en monitor y PC; Unión de imágenes soportada exclusivamente por software de PC. Interfaz de desarrollo secundario Disponible a través de USB3.0/WIFI.
Entorno operativo:Temperatura de trabajo 10-35 ℃, humedad relativa 30-75 % RH. Estable bajo condiciones normales Entorno electromagnético de fábrica. Evite vibraciones fuertes, gases corrosivos y polvo pesado. Mantenga el módulo WIFI alejado de Fuentes fuertes de interferencia de señal.
Calidad y mantenimiento:Inspección de fábrica de artículos completos. No desmonte los módulos ópticos ni Módulo de enfoque automático. La limpieza regular a prueba de polvo prolongará la vida útil.
Semiconductores y microelectrónica (aplicación DIC principal):
Obleas de silicio, láminas de litografía, chips IC, PCB, circuitos flexibles FPC, uniones de soldadura, componentes de embalaje.
Objetivos de inspección: topografía de la superficie del chip, patrones de grabado de obleas, nanoarañazos, uniones de soldadura en frío,
oxidación y deformación del pasador. El contraste de interferencia diferencial (DIC) resalta diferencias sutiles de altura de superficie
para observación de cortes de microcircuitos dentro del rango de aumento de 190-1900×.
Muestras de metales metalográficos:
Secciones metalográficas de aleación, herrajes metálicos estampados con precisión.
Objetivos de inspección: estructura de grano metálico, análisis de tratamiento térmico, microfisuras superficiales, desconchones de bordes, rebabas finas,
rastros de desgaste e impurezas del material interno. Modos de campo brillante/campo oscuro/luz polarizada disponibles para
observación de estructuras metal-cristalinas.
Muestras de investigación de laboratorio: cristal, polvo, fibra y película delgada:
Cristales químicos, polvo metálico, fibra de carbono, fibra textil, películas de revestimiento óptico.
Observe la morfología de los cristales, los contornos de las partículas, la delaminación de la película y las texturas de los microrrevestimientos; luz-polarizada
Identifica las características de polarización del cristal.
Componentes optoelectrónicos de plástico de precisión:
Chips LED, lentes ópticas, sustratos de vidrio, pegamento para envases de semiconductores.
Detecta microporos, nanoarañazos, delaminación del pegamento, burbujas y sutiles irregularidades en la superficie.
Componentes en miniatura de alta precisión:
Conectores, terminales, microrresortes, pequeñas piezas estampadas.
Medición precisa a nivel de píxeles de 4K para espacios, diámetros de orificios, diferencias de paso y altura de la superficie; DIC visualiza
sutil deformación por engarce.
Laboratorios universitarios y control de calidad de semiconductores de alta gama:
Experimentos de investigación de materiales, inspección de productos entrantes de obleas, observación de muestras metalográficas; foto-video
Archivar y exportar informes de mediciones precisas a través de un PC.
Equipado con imágenes 4K nativas compatibles con 3840*1080. Adecuado para análisis metalográficos e inspección de circuitos de chips. y generación-de-informes-de-pruebas-profesionales; Muestra claramente granos de metal, microarañazos y pequeños microdefectos.
Equipado con enfoque automático de hardware, se adapta a la inspección de producción en masa y al reemplazo frecuente de muestras. Logra rápido enfocando después del movimiento de la muestra sin ajustes manuales repetidos para mejorar la eficiencia de la prueba. El modo de enfoque manual también es disponible para observación de muestras estáticas.
Platina móvil manual estándar y trayectoria óptica metalúrgica trinocular vertical para cortes de viruta, tamaño pequeño-mediano PCB y muestras de metal, suprimiendo eficazmente el deslumbramiento reflectante para la inspección metalográfica. Etapa XY motorizada puede ser seleccionado como actualización opcional.
Rango de aumento dual: aumento óptico de 50-500X, aumento digital de 190-1900X. Cubre tanto el espécimen completo descripción general e inspección de microgranos/microdefectos.
Admite medición integrada en el dispositivo y medición de software para PC. Equipado con salida HDMI, USB3.0 y WIFI puertos. Las fotos, vídeos y datos de medición se pueden guardar a través de un disco U o una computadora. Desarrollo secundario apoyado para integración de líneas de producción y trazabilidad de datos de laboratorio.
El envío con embalaje neutral está disponible a pedido.
| Artículo | Descripción |
| Producto | Microscopio metalúrgico de inspección de obleas GP-L600-462H con 4K Ultra HD y enfoque automático |
| Categoría | Microscopio metalúrgico trinocular de grado de investigación de laboratorio, compatible con interferencia diferencial DIC, observación de campo claro/campo oscuro/luz polarizada |
| Tecnologías centrales | Sistema óptico de visualización sincrónica trinocular, iluminación integrada multimodo (campo brillante, campo oscuro, polarizador, contraste de interferencia diferencial DIC), profesional de alta precisión metalúrgico conjunto de lentes objetivo, sensor de imagen CMOS 4K ultra-HD, módulo de enfoque automático de hardware, triple canal transmisión (HDMI+USB3.0+WIFI), sistema de medición dual, síntesis de profundidad de campo y algoritmo de unión de imágenes, Arquitectura abierta que apoya la integración del desarrollo secundario. |
| Especificaciones clave | Ampliación visual: 50/100/200/500×; Ampliación electrónica: 190/380/760/1900×; Puertos de triple salida: HDMI + USB3.0 + WIFI; Resolución de captura 4K: 3840×2160; Equipado con enfoque automático por hardware (enfoque manual también). disponible); Modos de medición dual: medición precisa incorporada + medición de software de PC combinada; Modos de almacenamiento dual: almacenamiento en disco U + almacenamiento de software de computadora; Terminal de monitor soporta dimensiones medición, vista previa de imágenes HD, grabación de fotografías y vídeos, síntesis de profundidad de campo; Soportes para terminales de PC medición dimensional, almacenamiento de archivos, síntesis de profundidad de campo y unión de imágenes; Soportes para toda la unidad integración del desarrollo secundario. |
| Aplicaciones típicas | Análisis de fallas de obleas semiconductoras, inspección metalográfica de materiales metálicos, recubrimiento de película delgada. observación de microestructuras, pruebas de paquetes de semiconductores de precisión, investigación-de-laboratorio-de-material-avanzado, observación-de-biomateriales-médicos, detección-de-microdefectos-para-componentes-electrónicos |
| Fabricante | Instrumento de precisión Co., Ltd. de Kunshan Gaopin |
| Ubicación del fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (junto a Shanghai) |
| Modelo | GP-L600-462H |
| Resolución | 3840×2160 |
| Píxeles reales efectivos | 8.300.000 píxeles |
| Método de enfoque | enfoque automático |
| Formato óptico | 1/1.8" |
| Tamaño de píxel | 2,0 µm × 2,0 µm |
| Método de salida | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Introducciones funcionales detalladas correspondientes a cada interfaz de salida | ① HDMI se conecta a pantallas compatibles con 4K. Compatibilidad con firmware de procesamiento de imágenes profesional integrado
enfoque automático controlado por hardware, grabación de fotografías, grabación de vídeo, medición dimensional, reproducción de imágenes
y
Comparación de imágenes, operada por el ratón en tiempo real. ② USB 3.0 se conecta a la computadora, incluido con Software de procesamiento de imágenes profesional de alta calidad para captura de fotografías, medición dimensional, fusión de profundidad de campo y unión de imágenes. ③ El módulo WIFI se conecta a computadoras portátiles o dispositivos móviles; en tiempo real Transmisión de imágenes, fotografía y almacenamiento mediante software correspondiente. |
| Velocidad de fotogramas | HDMI: 60 fps a 3840×2160 USB3.0: 30 fps a 3840 × 2160; 60 fps a 1920×1080 WIFI: 30 fps a 3840 × 2160; 60 fps @1920×1080 |
| Síntesis de profundidad de campo | Compatible con firmware HDMI en monitor y software de PC |
| Unión de imágenes | Compatible solo en el lado del software de PC |
| Método de medición | Sistema de medición integrado en monitor + medición con software para PC |
| Precisión de medición | 0,002-0,005 milímetros |
| Unidades de medida | mm / μm / mil / pulgada (4 unidades conmutables) |
| Herramientas de medición | Longitud, ángulo, radianes, círculo, polígono, polilínea, distancia de centro a centro, rectángulo, anotación agregando, detección automática de bordes, barra de escala y más |
| Método de almacenamiento | Almacenamiento en disco U + almacenamiento de software para PC |
| Idioma de visualización | Chino simplificado/inglés (conmutable) |
| Procesador | Procesador de control principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Sistema operativo | Firmware de medición desarrollado independientemente basado en el kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imágenes | Nombramiento automático o manual disponible |
| Cabezal de visualización | Cabeza trinocular tipo bisagra inclinada 30°; rango de ajuste interpupilar: 54-76 mm; división de dos haces proporciones: 100:0, 0:100 |
| Modos de observación | ★ Campo brillante/campo oscuro/luz polarizada/DIC (el hardware DIC es opcional) |
| Sistema de iluminación | Sistema de iluminación de luz descendente transmitida y reflejada, entrada de amplio voltaje de 100-240 V, ajustable filamento centro, intensidad de luz continuamente ajustable. |
| Pararse | ① Bastidor transmitido-reflejado de doble propósito; Mecanismo de enfoque coaxial grueso-fino de posición baja.
Carrera de ajuste grueso: 33 mm; Precisión de ajuste fino: 0,001 mm. Equipado con bloqueo y limitación.
dispositivos. ② Reflector de campo claro y campo oscuro con tope de apertura variable, tope de campo y conjunto de centro ajustable. ③ Filtro de interferencias y placa de equilibrio de color (luz blanca) para trayectoria óptica de luz reflejada. ④ Dispositivo de conmutación de campo claro-oscuro; ranuras para filtros de color y accesorios polarizadores. |
| Etapa mecánica | Platina mecánica manual de 4 pulgadas. Dimensión del escenario: 230 mm × 215 mm; Recorrido X-Y: 105 mm × 105 mm. vidrio Placa portamuestras para observación transmitida y reflejada. |
| Fuente de luz | Cámara de lámpara halógena de 12 V y 100 W (luz reflejada); Lámpara halógena de 12V 100W (luz transmitida). |
| Función de polarización | Toma polarizador de 30 grados (luz reflejada); Conector analizador giratorio de 360° para luz polarizada observación. |
| Oculares | Dos oculares de campo plano de gran angular PL10X/22 mm con dioptrías ajustables (un ocular con retícula escala). |
| Muserola | ★ Revólver objetivo de cinco orificios y campo oscuro brillante |
| Función del centro de información al conductor | Función de contraste de interferencia diferencial; Los accesorios de la placa de inserción del DIC son opcionales y no están incluidos. en configuración estándar. |
| Interfaz electrónica | Interfaz de cámara con montura C de 0,5X, enfoque ajustable; CTV 1X es opcional con compensación de diferencia de precio. |
| Objetivos metalúrgicos | ★ Objetivos metalúrgicos semidestructivos de campo brillante-oscuro ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, en funcionamiento Distancia: 9,00 mm × 1 pieza ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Distancia de trabajo: 9,00 mm × 1 pieza ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Distancia de trabajo: 3,40 mm × 1 pieza ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Distancia de trabajo: 7,50 mm × 1 pieza ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Distancia de trabajo: 2,10 mm (opcional, no incluido en el paquete estándar) |
| Ampliación óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (conmutable en cuatro niveles) |
| Ampliación electrónica | Aprox. 190X, 380X, 760X, 1900X (conmutable en cuatro niveles); rango de aumento opcional: 380-3800X. |
Los microscopios GAOPIN son utilizados por empresas, institutos de investigación y universidades líderes. Nuestro colaborativo las relaciones incluyen:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Pruebas de componentes optoelectrónicos y análisis de fallos
Universidad Xi'an Jiaotong - Observación experimental de ciencia de materiales avanzada y óptica de precisión
Instituto de Óptica y Mecánica Fina de Shanghai, CAS - Investigación óptica avanzada y caracterización-de-componentes-ópticos
Universidad de Comercio de Tianjin: enseñanza en laboratorio de materiales, microimágenes y archivo de datos experimentales
Instituto de Cerámica de Shanghai, CAS – Microanálisis de cerámicas inorgánicas y materiales de nuevas energías
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Detección de microfallos y dimensiones para piezas mecanizadas de precisión
A1: Equipado con interfaces HDMI, USB3.0 y WIFI. Admite visualización de monitor directo y PC con cable/inalámbrico conexión para la detección colaborativa.
R2: Admite grabación de fotografías y vídeos 4K ultra-HD. Los archivos se pueden guardar en un disco U con formato FAT32 de hasta 32 GB capacidad o almacenamiento de computadora. Admite mediciones precisas tanto en pantalla como en software de PC, con almacenamiento de datos y funciones-de-exportación-de-informes.
A3: Verifique la fuente de alimentación y el adaptador correspondiente; fije firmemente el cable HDMI y cambie el monitor a la fuente de señal correcta; reinicie el dispositivo para resolver fallas de pantalla negra, falta de imagen y parpadeo de pantalla.
R4: Este modelo admite modos duales de enfoque automático de hardware y enfoque manual. Puede habilitar el enfoque automático para obtener imágenes rápidas o afinar manualmente. Bloquee la lente del objetivo firmemente, coloque la muestra en posición horizontal, limpie regularmente el polvo y las huellas dactilares de la lente para obtener agudo imágenes.
R5: Admite conexión de PC inalámbrica por cable USB y WIFI. Instale el software de medición oficial, desactive el firewall o programas de interceptación, reconectar el hardware y reiniciar el software para un reconocimiento normal.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. se fundó oficialmente en 2011. Nuestro equipo fundador acumuló una gran riqueza Experiencia en la industria de instrumentos de inspección óptica a partir de 2005. Brindamos servicios de ciclo completo que cubren diseño de productos, I+D interno, ventas globales y servicios integrales de mantenimiento posventa. Nuestro El equipo de ingeniería calificado tiene más de diez años de experiencia en el desarrollo de instrumentos ópticos para garantizar Rendimiento técnico estable y calidad de producto confiable.
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