El microscopio metalúrgico GP-L600-300C para inspección de obleas es un microscopio metalúrgico de inspección de obleas especialmente diseñado para microestructura de materiales. inspección. Equipado con un sistema óptico de luz reflejada de alta resolución y una función de interferencia diferencial DIC, genera Imágenes en estereorrelieve para observar estructuras de granos, grietas, inclusiones y capas de revestimiento de metales, aleaciones, semiconductores y otros materiales. Con cámara industrial incorporada, admite captura de imágenes y visualización en monitor. medición; La evaluación del tamaño de grano está disponible con software de soporte opcional. Ampliamente aplicado en control de calidad, escenarios de análisis de fallas e investigación de ciencias de materiales.
Este microscopio metalúrgico para inspección de obleas es adecuado para la observación microscópica de microestructuras metalográficas y morfología de superficies. eso Sirve como una herramienta de investigación ideal para las disciplinas de metalurgia, mineralogía e ingeniería de precisión.
1. Visualización binocular más observación electrónica sincrónica:Vista del ocular y pantalla del monitor trabajar sincrónicamente. Los microscopios metalúrgicos ordinarios sólo admiten la observación ocular; accesorios adicionales para la cámara son necesarios para la salida de pantalla.
2. Cuerpo mecánico de alta precisión:Estructura mecánica rígida con trayectoria óptica estable, adecuada para trabajos de semiconductores y análisis de materiales. Los microscopios metalúrgicos convencionales ofrecen menores Precisión.
3. Salida HDMI directa:Salida de imágenes en tiempo real para monitorizar mediante cable HDMI. metalurgia general Los microscopios requieren cámaras y tarjetas de captura independientes para la salida de imágenes.
4. Medición fuera de línea en monitor:La medición de dimensiones se puede completar directamente en el monitor sin conexión a PC. Los microscopios metalúrgicos habituales se basan exclusivamente en mediciones mediante software de PC.
5. Almacenamiento en disco U sin conexión:Guarde fotos y videos en U-disk sin una computadora. Tradicional Los modelos deben conectarse a la PC para guardar la imagen.
6. Ruta óptica metalúrgica dedicada:Optimizado para grano metálico, revestimiento, semiconductores y inspección metalográfica. Los microscopios digitales comunes carecen de este camino óptico especializado y no pueden visualizar estructuras metalográficas.
Cámara HD integrada en la carcasa trinocular para visualización simultánea a través del ocular y el monitor. Microimagen HDMI en tiempo real La salida combina flujos de trabajo de observación y grabación.
Admite observación DIC, campo brillante, campo oscuro y luz polarizada. Aumento de 4 pasos, óptico 50-500X, máx. digitales Ampliación de hasta 1900X, que ofrece detalles nítidos para la inspección de microcaracterísticas.
Las perillas de enfoque dual combinadas con un conjunto de lente y cilindro reforzado permiten un enfoque constante y minimizan el movimiento de la imagen.
Cuerpo de metal integrado grueso y soporte de escenario con centro de gravedad bajo, manteniendo un rendimiento estable para larga duración observación de laboratorio.
Estructura minimalista de metal rígido completamente blanco con diseño óptico modular, ideal para laboratorios e investigación. institutos.
Ideal para inspección de obleas, análisis metalográficos, caracterización de microestructuras de materiales, investigación académica y trabajo de evaluación de precisión y calidad.
Captura de fotos y vídeos de 1080P, medición integrada en el monitor, almacenamiento en disco U. Las imágenes digitales simplifican el archivado de archivos, comparación y análisis post-experimento.
Mecánica:Construcción totalmente metálica para alta rigidez y resistencia a las vibraciones. Precisión Enfoque grueso y fino sin reacción. Etapa mecánica XY manual de alta precisión con bajo desgaste y mínimo autorización. La trayectoria óptica trinocular mantiene la alineación óptica durante el cambio de aumento.
Óptica:Objetivos metalúrgicos plan-acromáticos corregidos al infinito con revestimiento duro antivaho. Iluminación con lámpara halógena de transmisión reflejada de 12 V-100 W.
Imágenes y medición:Cámara HDMI 1080P de grado industrial con excelente antiinterferencias Rendimiento, adecuado para operación en ambiente industrial. Las mediciones se realizan mediante firmware en la pantalla.
Entorno operativo:Temperatura de trabajo 10-35 ℃, humedad relativa 30-75 % RH. Rendimiento estable en un entorno electromagnético normal de fábrica. Evite vibraciones fuertes, gases corrosivos y polvo pesado.
Calidad y mantenimiento:Inspección de fábrica de artículos completos. No desmonte los módulos ópticos. regular La limpieza a prueba de polvo prolongará la vida útil.
Semiconductores y microelectrónica (aplicación DIC principal):
Obleas de silicio, láminas de litografía, chips IC, PCB, circuitos flexibles FPC, uniones de soldadura, componentes de embalaje.
Objetivos de inspección: topografía de la superficie del chip, patrones de grabado de obleas, nanoarañazos, uniones de soldadura en frío,
oxidación y deformación del pasador. El contraste de interferencia diferencial (DIC) resalta diferencias sutiles en la altura de la superficie
para observación de cortes de microcircuitos dentro del rango de aumento de 190-1900×.
Muestras de metales metalográficos:
Secciones metalográficas de aleación, acero, herrajes metálicos estampados con precisión.
Objetivos de inspección: estructura de grano metálico, análisis de tratamiento térmico, microfisuras superficiales, desconchones de bordes, rebabas finas,
rastros de desgaste e impurezas del material interno. Modos de campo brillante/campo oscuro/luz polarizada disponibles para metal
observación de la estructura cristalina.
Muestras de investigación de laboratorio: cristal, polvo, fibra y película delgada:
Cristales químicos, polvo metálico, fibra de carbono, fibra textil, películas de revestimiento óptico.
Observe la morfología de los cristales, los contornos de las partículas, la delaminación de la película y las texturas de los microrrevestimientos; luz-polarizada
Identifica las características de polarización del cristal.
Componentes optoelectrónicos de plástico de precisión:
Chips LED, lentes ópticas, sustratos de vidrio, pegamento para envases de semiconductores.
Detecta microporos, nanoarañazos, delaminación del pegamento, burbujas y sutiles irregularidades en la superficie.
Componentes en miniatura de alta precisión:
Conectores, terminales, microrresortes, pequeñas piezas estampadas.
Medición precisa a nivel de píxeles para espacios, diámetros de orificios, diferencias de paso y altura de la superficie; DIC visualiza
sutil deformación por engarce.
Laboratorios universitarios y control de calidad de semiconductores de alta gama:
Experimentos de investigación de materiales, inspección de productos entrantes de obleas, observación de muestras metalográficas; foto-video
archivado.
Equipado con imágenes HD nativas de 1920*1080. Adecuado para observación metalográfica e inspección de semiconductores básicos. y generación de informes de laboratorio simples; Muestra claramente granos de metal y pequeños defectos del circuito.
Diseño de enfoque manual, adecuado para muestras de laboratorio estáticas y reemplazo de piezas de trabajo de baja frecuencia. Enfoque estable estructura con ajuste preciso para una observación detallada de muestras estáticas.
Etapa móvil manual estándar y trayectoria óptica metalúrgica trinocular vertical para muestras de metal, rodajas de virutas y PCB de tamaño mediano y pequeño, que suprimen eficazmente el deslumbramiento reflectante para la inspección metalográfica básica.
Rango de aumento dual: aumento óptico de 50-500X, aumento digital de 190-1900X. Cubre tanto el espécimen completo descripción general e inspección de microgranos/microdefectos.
Función de medición integrada en el dispositivo, salida HDMI en tiempo real, disco U para guardar fotografías de inspección y mediciones datos, para fines básicos de archivo de laboratorio.
El envío con embalaje neutral está disponible a pedido.
| Artículo | Descripción |
| Producto | Microscopio metalúrgico de inspección de obleas GP-L600-300C |
| Categoría | Microscopio metalúrgico trinocular de grado de investigación de laboratorio, compatible con interferencia diferencial DIC, observación de campo claro/campo oscuro/luz polarizada |
| Tecnologías centrales | Sistema óptico de visualización sincrónica trinocular, iluminación integrada multimodo (campo brillante, campo oscuro, polarizador, contraste de interferencia diferencial DIC), alta precisión profesional metalúrgico conjunto de lentes objetivo, sensor de imágenes HD CMOS, módulo de medición de precisión digital incorporado, HDMI Salida de vídeo en tiempo real, tecnología de almacenamiento de imágenes local en disco U |
| Especificaciones clave | Ampliación visual: 50/100/200/500×; Ampliación electrónica: 190/380/760/1900×; Interfaz de salida: hdmi solamente; Resolución de captura: 1920*1080; Solo enfoque manual; Función de medición precisa incorporada; disco U almacenamiento; El terminal de monitor admite vista previa de imágenes HD, captura de fotografías y grabación de vídeo; Observación modos incluyen interferencia diferencial, campo brillante, campo oscuro y luz polarizada. |
| Aplicaciones típicas | Análisis de fallas de obleas de semiconductores, pruebas metalográficas de materiales metálicos, recubrimientos de películas delgadas. observación de microestructura, inspección de paquetes de semiconductores de precisión, investigación-de-laboratorio-de-nuevos-materiales, observación-de-biomateriales-médicos, detección-de-microdefectos-para-componentes-electrónicos |
| Fabricante | Instrumento de precisión Co., Ltd. de Kunshan Gaopin |
| Ubicación del fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (junto a Shanghai) |
| Modelo | GP-L600-300C |
| Resolución | 1920×1080 |
| Píxeles reales efectivos | 2 megapíxeles |
| Método de enfoque | Solo enfoque manual |
| Formato óptico | 1/2" |
| Tamaño de píxel | 3,75 µm × 3,75 µm |
| Método de salida | hdmi |
| Introducción detallada para interfaces de salida | ① HDMI se conecta a pantallas compatibles con 4K. Compatibilidad con firmware de procesamiento de imágenes profesional integrado grabación de fotografías, grabación de vídeo, medición dimensional, reproducción y comparación de imágenes, operado mediante el ratón en tiempo real. |
| Velocidad de fotogramas | HDMI: 60 fps a 1920*1080 |
| Síntesis de profundidad de campo | / |
| Unión de imágenes | / |
| Método de medición | Sistema de medición integrado en el monitor |
| Precisión de medición | 0,001 milímetros |
| Unidades de medida | mm / μm / mil / pulgada (4 unidades conmutables) |
| Herramientas de medición | Longitud, ángulo, radianes, círculo, polígono, polilínea, distancia de centro a centro, rectángulo, anotación agregando, detección automática de bordes, barra de escala y más |
| Método de almacenamiento | almacenamiento en disco U |
| Idioma de visualización | Chino simplificado/inglés (conmutable) |
| Procesador | ARM Cortex-A7 de doble núcleo a máx. 1,3 GHz |
| Sistema operativo | Firmware de medición desarrollado independientemente basado en el kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imágenes | Nombramiento automático o manual disponible |
| Cabezal de visualización | Cabeza trinocular tipo bisagra inclinada 30°; rango de ajuste interpupilar: 54-76 mm; división de dos haces proporciones: 100:0, 0:100 |
| Modos de observación | ★ Campo brillante/campo oscuro/luz polarizada/DIC (el hardware DIC es opcional) |
| Sistema de iluminación | Sistema de iluminación de luz descendente transmitida y reflejada, entrada de amplio voltaje de 100-240 V, ajustable filamento centro, intensidad de luz continuamente ajustable. |
| Pararse | ① Bastidor transmitido-reflejado de doble propósito; Mecanismo de enfoque coaxial grueso-fino de posición baja.
Carrera de ajuste grueso: 33 mm; Precisión de ajuste fino: 0,001 mm. Equipado con bloqueo y limitación.
dispositivos ② Reflector de campo claro y campo oscuro con tope de apertura variable, tope de campo y conjunto de centro ajustable. ③ Filtro de interferencias y placa de equilibrio de color (luz blanca) para trayectoria óptica de luz reflejada. ④ Dispositivo de conmutación de campo claro-oscuro; ranuras para filtros de color y accesorios polarizadores. |
| Etapa mecánica | Platina mecánica manual de 4 pulgadas. Dimensión del escenario: 230 mm × 215 mm; Recorrido X-Y: 105 mm × 105 mm. vidrio Placa portamuestras para observación transmitida y reflejada. |
| Fuente de luz | Cámara de lámpara halógena de 12 V y 100 W (luz reflejada); Lámpara halógena de 12V 100W (luz transmitida). |
| Función de polarización | Toma polarizador de 30 grados (luz reflejada); Conector analizador giratorio de 360° para luz polarizada observación. |
| Oculares | Dos oculares de campo plano de gran angular PL10X/22 mm con dioptrías ajustables (un ocular con retícula escala). |
| Muserola | ★ Revólver objetivo de cinco orificios y campo oscuro brillante |
| Función del centro de información al conductor | Función de contraste de interferencia diferencial; Los accesorios de la placa de inserción del DIC son opcionales y no están incluidos. en configuración estándar. |
| Interfaz electrónica | Interfaz de cámara con montura C de 0,5X, enfoque ajustable; CTV 1X es opcional con compensación de diferencia de precio. |
| Objetivos metalúrgicos | ★ Objetivos metalúrgicos semidestructivos de campo brillante-oscuro ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, en funcionamiento Distancia: 9,00 mm × 1 pieza ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Distancia de trabajo: 9,00 mm × 1 pieza ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Distancia de trabajo: 3,40 mm × 1 pieza ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Distancia de trabajo: 7,50 mm × 1 pieza ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Distancia de trabajo: 2,10 mm (opcional, no incluido en el paquete estándar) |
| Ampliación óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (conmutable en cuatro niveles) |
| Ampliación electrónica | Aprox. 190X, 380X, 760X, 1900X (conmutable en cuatro niveles); rango de aumento opcional: 380-3800X. |
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Los microscopios GAOPIN son utilizados por empresas, institutos de investigación y universidades líderes. Nuestro colaborativo las relaciones incluyen:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Inspección de componentes y conectores de precisión
NIO Shanghai: inspección de precisión para mazos de cables y piezas de automóviles de nueva energía
Instituto de Cerámica de Shanghai, CAS – Microanálisis de cerámicas inorgánicas y materiales de nuevas energías
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. - Verificación de apariencia y microcalidad para piezas-estándar-industriales
Instituto de Tecnología de Beijing: análisis de investigación científica para materiales militares y dispositivos optoelectrónicos
GREE Electric Appliances (Hefei): medición de dimensiones de precisión e inspección de defectos en piezas de electrodomésticos
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. se fundó oficialmente en 2011. Nuestro fundador comenzó a investigar y fabricación de equipos de inspección óptica ya en 2005 y acumuló abundante experiencia en la industria. nosotros entregar Servicios de ciclo completo que cubren diseño de productos, I+D técnico, ventas globales y mantenimiento-integral-post-venta. Nuestro equipo de ingeniería interno tiene más de diez años de experiencia en el desarrollo de sistemas ópticos para garantizar una estabilidad rendimiento técnico y calidad confiable del producto.
GAOPIN ofrece más de cien categorías de instrumentos de inspección óptica que sirven a industrias y laboratorios. clientes en todo el mundo. Proporcionamos soluciones de microscopía personalizadas, flexibles y rentables para diversos sectores industriales. proyectos de control de calidad y análisis de laboratorio.
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A1: Sólo está equipada con salida HDMI de alta definición. No hay puerto USB, WIFI o LAN. La conexión a la computadora no es apoyado; Funciona de forma independiente con un monitor para flujos de trabajo de operación simple.
A2: Verifique la fuente de alimentación y el adaptador correspondiente; fije firmemente el cable HDMI; cambie el monitor para corregir la fuente de señal HDMI; reinicie el dispositivo para resolver fallas de pantalla negra y sin imagen.
A3: Este es un modelo de enfoque manual. Ajuste lentamente el volante de enfoque para obtener imágenes nítidas. Bloquee la lente del objetivo firmemente, colóquela Tome una muestra plana y limpie periódicamente el polvo y las manchas de la lente para obtener una visión clara.
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